一、熱探測(cè)器與光子探測(cè)器相比的優(yōu)點(diǎn)：

  熱紅外探測(cè)器對(duì)各種波長(zhǎng)都有響應(yīng)，光子探測(cè)器只對(duì)它的長(zhǎng)波限以下的一段波長(zhǎng)區(qū)間有響應(yīng)。

  熱探測(cè)器（除低溫測(cè)輻射熱計(jì)外）工作時(shí)不需要冷卻，光子探測(cè)器則多數(shù)需要冷卻。

  二、熱探測(cè)器與光子探測(cè)器相比的缺點(diǎn)：

  熱探測(cè)器的響應(yīng)度一般低于光子探測(cè)器，響應(yīng)時(shí)間一般比光子探測(cè)器長(zhǎng)。

  熱探測(cè)器的性能與器件尺寸、形狀，以及工藝細(xì)節(jié)等很有關(guān)系，因此，需要十分講究工藝技巧，產(chǎn)品規(guī)格常不容易穩(wěn)定，有點(diǎn)類似于薄膜型光子紅外探測(cè)器。而單晶型光子探測(cè)器，無論是單晶材料的生產(chǎn)還是器件的制造，在物理機(jī)制方面都比較清楚，工藝也比較先進(jìn)和定型，因而產(chǎn)品比較能夠規(guī)格化。

  光子探測(cè)器屬于選擇性探測(cè)器。它只對(duì)具有足夠能量的光子有響應(yīng)，即存在一長(zhǎng)波限。在小于長(zhǎng)波限工作時(shí)，光電信號(hào)隨波長(zhǎng)的增大而增大。超過長(zhǎng)波限后，光信號(hào)迅速下降到零。長(zhǎng)波限處于紫外，可見光或波長(zhǎng)為2-3μm的近紅外波段時(shí)，紅外探測(cè)器可直接在室溫下工作。當(dāng)長(zhǎng)波限在4-5μm時(shí)，則需冷卻到干冰溫度，即195K。如果要探測(cè)器延伸到8-15μm或更長(zhǎng)波段工作，則需冷卻到液氮溫度，即77K或更低溫度。

  熱紅外探測(cè)器則屬于無選擇性探測(cè)器。即對(duì)不同波長(zhǎng)的單位入射功率，有幾乎相同的輸出信號(hào)。但其光譜響應(yīng)仍受窗口材料所限。熱探測(cè)器通常在室溫下即可正常工作。

  光子探測(cè)器的主要優(yōu)點(diǎn)是探測(cè)靈敏度高，響應(yīng)速度快，具有較高的響應(yīng)率。但光子探測(cè)器一般需要在低溫下工作，探測(cè)波段較窄。熱探測(cè)器的主要優(yōu)點(diǎn)是響應(yīng)波段寬，可以在室溫工作，使用簡(jiǎn)單。但熱探測(cè)器由于宏觀樣品的加熱與冷卻是一個(gè)緩慢的過程，因此響應(yīng)時(shí)間較長(zhǎng)，探測(cè)靈敏度低，一般應(yīng)用于低頻調(diào)制的場(chǎng)合?？梢哉J(rèn)為，前者是微妙量級(jí)，后者是毫秒量級(jí)。

  鑒于以上兩種紅外探測(cè)器的局限性，人們迫切需要一種即可在室溫下工作，又有較高響應(yīng)速度和響應(yīng)度，且有一定選擇性的紅外探測(cè)器。同時(shí)要求該探測(cè)器可通過現(xiàn)有的硅微電子工藝實(shí)現(xiàn)。